對(duì)
奧林巴斯光譜儀射線強(qiáng)度有影響的因素是什么呢?奧林巴斯光譜儀的定量分析是以熒光x光線的強(qiáng)度為根據(jù)的，影響光譜儀射線強(qiáng)度的因素會(huì)影響分析的精確度，以下是主要兩大影響因素：
一、基體效應(yīng):
基體效應(yīng)包含吸收效應(yīng)及加強(qiáng)效應(yīng)。
吸收效應(yīng)包含基材對(duì)入射x光線的吸收及對(duì)熒光x光線的吸收。由于用射線激發(fā)試品時(shí)，不只是作用于試品表層并且能穿透相應(yīng)的厚度進(jìn)入試品里面，并且試品里面分析元素形成的熒光x光線，也必須穿過(guò)相應(yīng)厚度的試品才可以射出。在穿透過(guò)程中，這二種x光線都會(huì)因基材元素的吸收而使射線強(qiáng)度減弱，射線減弱會(huì)影響對(duì)分析元素的激發(fā)效率。
假如入射x光線使基材元素激發(fā)所形成的熒光x光線的波長(zhǎng)略短于分析元素的吸收邊，它會(huì)使分析元素形成二次熒光x光線，進(jìn)而使分析元素的熒光x光線強(qiáng)度加強(qiáng)，這就是基材的加強(qiáng)效應(yīng)。
假如吸收效應(yīng)占主導(dǎo)作用，則分析結(jié)果稍低，假如加強(qiáng)效應(yīng)占主導(dǎo)作用，則分析結(jié)果較高。
二、不均勻效應(yīng):
不均勻效應(yīng)就是指試品顆粒大小不均勻及試品表層光潔度對(duì)熒光x光線強(qiáng)度的影響。對(duì)粉末試品，大顆粒吸收效應(yīng)強(qiáng)，小顆粒吸收效應(yīng)弱，因而，要求顆粒粒度盡可能小一些，以減少對(duì)x光線的吸收。測(cè)短波x光線時(shí)，要求粒度在250目以上，測(cè)量波長(zhǎng)超過(guò)0.2nm的長(zhǎng)波x射線時(shí)，則粒度要求在400目以上。
固體塊狀試樣一定要磨平拋光，粉末試樣要壓緊并使表層平滑。粗糙表層會(huì)使熒光x光線的強(qiáng)度明顯下降。測(cè)量短波x光線時(shí)，光潔度在1005m左右，測(cè)量長(zhǎng)波x光線時(shí)，光潔度為20-50Mm。
